セミナー
【ライブ配信＆後日の録画視聴可】
米国AEC-Q100、日本版AEC-Q100規格EDR-4708に対応！
車載用半導体の信頼性認定ガイドライン／最新動向
～故障物性に基づく寿命予測方法を使った信頼性評価計画、国際標準化動向やSiCデバイス信頼性の課題なども解説～
開催主旨
車載半導体は、自動運転や、EV化など国内半導体メーカの注力分野として、注目されています。車載用半導体には、民生用と異なる品質、信頼性要求があります。
車載用半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、今や世界標準になりつつあるAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、2017年7月にIEC で国際標準化(IEC 60749-43)され現在は、IEC 63827シリーズへ再編されました。
本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します。 また、最近の話題として、EV用のパワー半導体が注目されており、特にSiCデバイスが普及期にありますが、信頼性の課題もあり、SiCデバイスの最近の話題について説明致します。
※米国AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合と、日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します。
※EV用のパワー半導体、SiCデバイスの信頼性の問題や、最近の話題についてもじっくり説明します。
受講対象
車載用半導体の信頼性技術担当者、製造技術者、利用者される方、興味をお持ちの方。
習得可能知識
半導体製品の物理、統計的寿命予測方法の理解
故障物性に基づく寿命予測方法を使った信頼性評価計画及び国際標準化動向
本セミナーは、オンライン形式でのセミナーとなります。オンラインでのご視聴方法（参加用URL等）はご登録くださいましたメールにお知らせいたします。ZOOMでの視聴が困難な方には別途、こちらの手順を参照のうえブラウザ上でご視聴ください。
概要
| 日時 | 2025年 4月 25日（金）13:00～17:00 ※開催当日12:00まで申込受付 ※録画視聴は講座終了後10日間にわたりご視聴いただけます。 |
|---|---|
| 受講料 | 38,500円（テキスト代、後日の録画視聴、税込、1名分の参加費となります）※テキストはメールでお知らせします。 ※振込手数料は貴社でご負担願います。開催決定後、受講料の請求書（PDF）ををメールでお知らせします。 ※当日の参加が難しい方は録画での参加も可能です。録画での参加を希望される方は、申込フォームの備考欄にその旨をご記載ください。 |
| 主催 | 日刊工業新聞社 |
| 問い合わせ先 | 日刊工業新聞社 西日本支社 総合事業本部 セミナー係 TEL : 06-6946-3382 FAX : 06-6946-3389 E-mail : seminar-osaka@media.nikkan.co.jp |
講師
プログラム
| 1．車載用半導体集積回路の動向 |
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1-1 車載用半導体集積回路の技術動向 1.1.1 民生品との品質、信頼性レベルの違い |
| 2．車載用半導体に要求される信頼性 |
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2-1 加速性に基づいた必要信頼性試験条件 2.1.1 温度加速、温度差加速、電圧加速、湿度加速の考え方 2-2 事例紹介 2.2.1 実際の加速率、信頼性レベルの計算例の紹介 |
| 3．半導体集積回路の認定ガイドラインの説明 |
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3-1 AEC-Q100の内容と考え方 3.1.1 試験の進め方、条件、問題点 3-2 JEITA ED-4708の内容と考え方 3.2.1 品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方 3-3 国際標準化の状況について 3.3.1 今後の車載認定規格の方向性 |
| 4．ミッションプロファイルを用いた信頼性試験設計 |
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4-1 自動運転車による稼働時間の変化 |
| 5．SiCデバイスの信頼性の課題と国際規格動向 |
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5-1 SiCデバイスの特徴と課題 |
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6．まとめ・質疑応答 |
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【ライブ配信セミナーに伴う注意事項について】⇒ 【詳細はこちら】 ※必ずお読みください（お申込みを頂いた時点でご同意頂いたとみなします） |
